标准简介
本规范适用于分辨力(分度值)(0.01~10)μm、标称范围(-1000~+1000)μm电感测微仪的校准。英文名称：Calibration Specification for Inductive Micrometers
标准状态：现行
替代情况：替代JJG 396-2002
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2011-12-28
实施日期：2012-06-28
出版日期：2012-06-28
页数：24页
前言
JJF1071—2010 《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001—1998 《通用计量术语及定义》、JJF1059—1999 《测量不确定度评定与表示》、JJF1094—2002 《测量仪器特性评定》、JJG396—2002 《电感测微仪》共同构成支撑校准规范制修订工作的基础性系列规范。与 JJG396—2002 《电感测微仪》相比,除编辑性修改外,本规范主要技术变化如下:———将检定规程改为校准规范进行修订;———取消了“鉴别力”、“响应时间”计量特性要求;———对“测力”计量特性要求的校准方法进行了修改,增加了测力变化的要求;———将对“示值稳定度”的描述改为“漂移”,修改了数显电感测微仪漂移的技术指标;———将原规程中用2等量块以配对法或直接法对示值误差校准改为用量块(2等或3等)进行;———增加了附录B,C,D。JJG396—2002的历次版本发布情况为:———JJG396—1985,JJG804—1993。
