1 适用范围
本标准规定了可用于测量环境空气中氡的五种测定方法，即径迹蚀刻法、活性炭盒法、脉冲电离室法、静电收集法、闪烁室测量法。
本标准适用于室内外空气中氡-222浓度的测定，包括室外氡、室内氡及工作场所氡，不包括地下矿山与地下空间氡的测量。
2 术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
2.1 氡 radon
原子序数为86的元素的同位素222Rn，是铀系衰变的中间产物，是一种无色、无味的放射性惰性气体。
2.2 氡浓度 radon concentration
单位体积空气中氡的放射性活度，SI 单位为 Bq·m-3。
2.3 瞬时测量 spot measurement
在一个相对短的时间范围内测量某时刻浓度值的方法。
2.4 连续测量 continuous measurement
在固定的时间间隔内进行的不间断的并能够得到每一时间间隔结果的测量。
2.5 累积测量 integrating measurement
在特定的时间周期（从2天到1年或更长）进行的积分式测量，其结果为该时间段平均浓度。
2.6 标准氡室 standard radon chamber
一个特制的密封含氡容器，能对其内部的氡浓度和有关环境条件加以稳定而均匀的调控并对氡浓度准确定值。可用于氡空气浓度测量仪的计量检定。
2.7 刻度 calibrate
在已知氡浓度的情况下，确定测量装置的刻度系数（灵敏度）或校正因子。刻度有时又称为校准或标定。
2.8 平衡因子 equilibrium factor
空气中实际存在的氡子体α潜能浓度和与氡处于放射性平衡态的氡子体α潜能浓度的比值。
3 径迹蚀刻法
3.1 测量原理
此法是被动式采样，能测量采样期间内氡的累积浓度，探测器是固体核径迹材料（如 LR-115或CR-39），置于一定形状的采样盒内组成采样器。如图1所示。
图 1 径迹蚀刻法采样器结构
1—采样盒；2—滤膜；3－探测器
氡及其子体发射的α粒子轰击探测器时，使其产生潜径迹。将此探测器在一定条件下进行化学或电化学蚀刻，扩大损伤径迹，以致能用显微镜或自动计数装置进行计数。单位面积上的径迹数与氡浓度和暴露时间的乘积成正比。用刻度系数将径迹密度换算成氡浓度。此方法可作累积测量。
3.2 设备或材料
3.2.1 探测器
一般选用对α粒子敏感的固体核径迹材料，比如 LR-115、CR-39等。
3.2.2 采样盒
用于固定探测器并过滤空气中氡子体，一般由塑料制成，尺寸大小应符合实际测量要求。
3.2.3 蚀刻装置
用于将受照过的探测器中的潜径迹直径扩大至适合于计数装置测量，一般利用 NaOH 或者 KOH 溶液进行化学蚀刻或电化学蚀刻。
3.2.4 计数装置
用于读取蚀刻后的探测器单位面积上的径迹数的装置，一般通过光学显微镜等光学放大装置测读径迹数。
3.3 测量步骤
3.3.1 采样
3.3.1.1 在测量现场去掉密封包装。
3.3.1.2 将采样器布放在测量现场，其采样条件要符合附录 AA2 的要求。
3.3.1.3 室内测量。采样器可悬挂起来，也可放在其他物体上，其开口面上方 20cm 内不得有其他物体。
3.3.1.4 室外测量。采样点要有明显的标志，要远离公路、烟囱等污染物排放设施，地势开阔，周围10m 内无建筑物。采样器应做好防水、避光等措施。
3.3.1.5 采样终止时，取下采样器并密封包装，送回实验室。布放时间不少于 30d。
3.3.1.6 采样期间应记录的内容见附录 AA3。
3.3.1.7 根据布放点的氡浓度水平确定布放时间，对氡浓度高的区域，应缩短采样时间，避免探测器饱 和；对氡浓度较低的区域，应延长采样时间。
3.3.2 测量
3.3.2.1 采样器带回实验室后应尽快测量。
3.3.2.2 配制符合测量要求的蚀刻液，将探测器放入蚀刻装置中。控制好蚀刻液温度和蚀刻时间。
3.3.2.3 将蚀刻后的探测器取出洗净后晾干。
3.3.2.4 把处理好的探测器用计数装置读出单位面积上的径迹数。
3.3.3 计算。用式（1）计算氡浓度：
式中：
C——氡浓度， Bq / m3；
nR——净径迹密度，c T / cm2；
T ——暴露时间，h ；
FR——刻度系数， Tc/ cm2/ Bq▪h / m3；
Tc ——径迹数。
3.4 质量保证
3.4.1 刻度
3.4.1.1 把制备好的采样器置于标准氡室内，暴露一定时间，用规定测量的程序处理探测器，用式（2）计算刻度系数 FR。
式中符号意义见4.3.3。
3.4.1.2 刻度时应足下列条件：
3.4.1.2.1 氡室内氡浓度不随时间而变化。
3.4.1.2.2 每次至少要做两种不同氡浓度水平的刻度。
3.4.1.2.3 每个浓度水平至少放置 10 个采样器。
3.4.1.2.4 暴露时间要足够长，保证采样器内外氡浓度平衡。
3.4.1.2.5 暴露结束后探测器需要在低氡的环境下放置一段时间（12h），进行必要的时间补偿。
3.4.1.2.6 每一批探测器都应按一定比例进行抽样刻度。
3.4.1.2.7 更换探测器材料或批号需要重新刻度。
3.4.2 平行样
要在选定的场所内平行放置2个采样器，平行采样，数量不低于放置总数的10%，对平行采样器进行同样的处理，分析。
由平行样得到的变异系数应小于20%，若大于20%时，应找出处理程序中的差错。
3.4.3 空白样
在制备样品时，取出一部分探测器作为空白样品，其数量不低于使用总数的5%。空白探测器除不暴露于采样点与保存环境外，与现场探测器进行同样处理（如同时邮寄等）。空白样品的结果即为该探测器的本底值。
3.4.4 实验室对比
应定期参加可溯源至国家标准实验室之间的比对，以检查实验室间或测量方法间是否存在系统误差。
3.4.5 其它
探测器应在制造商给出的失效日期前使用，以避免固体核径迹材料老化后对测量结果造成影响。
4 活性炭盒法
