GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 现行

标准号：GB/T 35007-2018
中文标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
标准状态：现行,发布于2018-03-15; 实施于2018-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
中国标准分类号：31.200
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：成都振芯科技股份有限公司;工业和信息化部电子第五研究所;深圳市众志联合电子有限公司;工业和信息化部电子工业标准化研究院;深圳市国微电子有限公司;中国电子科技集团公司第二十九研究所
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