GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 现行

标准号：GB/T 30859-2014
中文标准名称：太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
英文标准名称：Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
标准状态：现行,发布于2014-07-24; 实施于2015-04-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2014-07-24
实施日期：2015-04-01
中国标准分类号：77.040
国际标准分类号：77.040
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：江苏协鑫硅材料科技发展有限公司;有研半导体材料股份有限公司;瑟米莱伯贸易（上海）有限公司
相近标准：20110058-T-469 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法; SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法; SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法; SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法; SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法; GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法; SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法; 20111477-T-469 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法; GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法; GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法