GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 被代替

标准号：GB/T 4377-1996
中文标准名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
英文标准名称：Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator
标准状态：被代替,发布于1996-07-09; 实施于1997-01-01; 被代替于2018-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：1996-07-09
实施日期：1997-01-01
中国标准分类号：31.200
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：北京半导体器件五厂
全部替代标准：GB 4377-1984
被以下标准代替：被GB/T4377-2018GB/T4377-2018全部代替
相近标准：GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法; 20154236-T-339 半导体集成电路 电压调整器测试方法; 半导体集成电路 电压调整器测试方法; SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理; GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理; SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理; GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理; GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理; GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理; SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理