GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法 电阻法 现行

标准号：GB/T 15717-1995
中文标准名称：真空金属镀层厚度测试方法 电阻法
英文标准名称：Test method for vacuum-deposited metal thickness--Electric resistance method
标准状态：现行,发布于1995-10-18; 实施于1996-04-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：1995-10-18
实施日期：1996-04-01
中国标准分类号：25.220.40
国际标准分类号：25.220.40
归口单位：全国包装标准化技术委员会
执行单位：全国包装标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：国家包装产品质量监督中心
相近标准：20194212-T-469 真空金属镀层厚度测试方法 电阻法; 真空金属镀层厚度测试方法 电阻法; GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法; GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法; 20065630-T-469 硅片厚度和总厚度变化测试方法; GB/T 1424-1996 贵金属及其合金材料电阻系数测试方法; GB/T 32218-2015 真空技术 真空系统漏率测试方法; 20111159-T-604 真空技术 真空系统漏率测试方法; JB/T 7129-1993 米电阻连续测试方法; JB/T 7129-2008 米电阻连续测试方法