GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 被代替

标准号：GB/T 5201-1994
中文标准名称：带电粒子半导体探测器测试方法
英文标准名称：Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
标准状态：被代替,发布于1994-12-22; 实施于1995-10-01; 被代替于2012-11-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：1994-12-22
实施日期：1995-10-01
中国标准分类号：17.240
国际标准分类号：17.240
归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会
执行单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：北京核仪器厂
相近标准：GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法; 20101268-T-307 带电粒子半导体探测器测量方法; 20030762-T-469 半导体探测器X射线能谱仪通则; GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则; GB/T 7167-1996 锗γ射线探测器测试方法; 20060891-T-307 锗γ射线探测器测试方法; GB/T 7167-2008 锗γ射线探测器测试方法; GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法; GB/T 13584-2011 红外探测器参数测试方法; 20062035-T-339 红外探测器参数测试方法