标准号：CNS 5073-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-冲击试验
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Shock Test
中国标准分类号：L4
国际标准分类号：31.080.0119
标准依据：台标2017/02/18公告
适用范围：本标准规定由于粗心之操作、输送中及使用时，可能遭遇之强度冲击时，评估电子装置用单件半导体装置之构造性，机械之耐抗力为目的之试验方法。
CNS 5073-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-冲击试验
百检网 2021-07-13
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