CNS 5075-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-等加速度试验

百检网 2021-07-13

标准号：CNS 5075-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-等加速度试验
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Constant Acceleration
中国标准分类号：L4
国际标准分类号：19.0419.083
标准依据：台标2017/02/18公告
适用范围：本标准规定评估单件半导体对等加速度之影响之试验方法。备考：本试验之设立目的为检查出冲击试验及振动试验所不一定能检查出之构造上或机械上之缺点。

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