GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

标准号：GB/T 4589.1-2006
中文标准名称：半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
英文标准名称：Semiconductor devices. Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
标准类型：L40
发布日期：2006/10/10 12:00:00
实施日期：2007/2/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围： 本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。 本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。