GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告

标准号：GB/T 25185-2010
中文标准名称：表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
英文标准名称：Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准类型：G04
发布日期：2010/9/26 12:00:00
实施日期：2011/8/1 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
引用标准：GB/T 22461-2008;GB/T 22571-2008
适用范围：本标准以*少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。