标准号：GB/T 15651.3-2003
中文标准名称：半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法
英文标准名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods
标准类型：L50
发布日期：2003/11/24 12:00:00
实施日期：2004/8/1 12:00:00
中国标准分类号：L50
国际标准分类号：31.260
适用范围： 本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法
百检网 2021-07-14
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