标准号：GB/T 5594.8-1985
中文标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
英文标准名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
标准类型：L32
发布日期：1985/11/27 12:00:00
实施日期：1986/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L32
国际标准分类号：31.030
适用范围： 本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
百检网 2021-07-14
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