KS D ISO 14606-2003 表面化学分析.溅射深度剖面测定.作为参考材料的层系统最优化

百检网 2021-07-14

标准号：KS D ISO 14606-2003
中文标准名称：表面化学分析.溅射深度剖面测定.作为参考材料的层系统*优化
英文标准名称：Surface chemical analysis－Sputter depth profiling－Optimization using layered systems as reference materials
标准类型：G04
发布日期：2003/10/6 12:00:00
实施日期：2003/10/6 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
适用范围：이 규격은 오제 전자 분광법, X선 광전자 분광법 및 이차 이온 질량 분석법에서 장비

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

相关商品

上一篇《BS EN ISO 10440-2-2002 石油和天然气工业.旋转型容积式压缩机.封装的空气压缩机(无油) 》

下一篇《BS EN 50216-6-2002 电力变压器和反应堆配件.冷却设备.油浸变压器的活动散热器》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

行业热点