IEC 60749-31 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封器件的易燃性(内部引起的)

百检网 2021-07-14

标准号：IEC 60749-31 Corrigendum 1-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封器件的易燃性(内部引起的)
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-31-2002 (Dispositifs a semiconducteurs -Methodes d'essais mecaniques et climatiques -Partie31:Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation))

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

相关商品

上一篇《ASTM D5755-2002 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法》

下一篇《DIN EN ISO 4590-2003 硬质泡沫塑料.开孔和闭孔容积百分数测定》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

行业热点