GB/T 4937.4-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

标准号：GB/T 4937.4-2012
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
英文标准名称：Semiconductor devices.Mechanical and climatic test methods.Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST)
标准类型：L40
发布日期：2012/11/5 12:00:00
实施日期：2013/2/15 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：GB/T 4937的本部分过电流强加速稳态湿热试验（HAST）方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。