GB/T 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

百检网 2021-07-19

标准号：GB/T 11297.6-1989
中文标准名称：锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
英文标准名称：Standard method for showing and measuring dislocation etch pits in Indium Antimonide single crystal
标准类型：L32
发布日期：1989/3/31 12:00:00
实施日期：1990/1/1 12:00:00
中国标准分类号：L32
国际标准分类号：29.040.30
适用范围：本方法采用硝酸-氢氟酸腐蚀剂腐蚀，适用于锑化铟原始晶片（111）铟面a位错的显示和测定。测量面偏离（111）面应不大于3°。

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