标准号：DIN EN 62047-8-2011
中文标准名称：半导体设备.微机电设备.第8部分:薄膜拉伸性能测量用带弯曲试验方法(IEC 62047-8-2011).德文版 EN 62047-8-2011
英文标准名称：Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011); German version EN 62047-8:2011
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2011/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01;31.220.01
DIN EN 62047-8-2011 半导体设备.微机电设备.第8部分:薄膜拉伸性能测量用带弯曲试验方法(IEC 62047-8-2011).德文版 EN 62047-8-2011
百检网 2021-07-19
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