GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动现行

百检网 2021-07-19

标准号：GB/T 4937.12-2018
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动
英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2018/9/17 12:00:00
实施日期：2019/1/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：迟雷
相近标准：20130105-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动;GB/T 4937-1995 半导体器件

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