SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 现行

百检网 2021-07-19
标准号:SJ/T 11706-2018
中文标准名称:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准状态:现行
标准类型:行业标准
发布日期:2018/2/9 12:00:00
实施日期:2018/4/1 12:00:00
中国标准分类号:上海复旦微电子集团股份有限公司
国际标准分类号:31.2
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
主管部门:工业和信息化部
起草单位:中国电子技术标准化研究院
起草人:胡海涛
相近标准:SJ/T 10607-1994  半导体集成电路门阵列设计总则;  半导体集成电路 霍尔电路测试方法;20192064-T-33
行业分类:信息传输、软件和信息技术服务业

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