标准号：NF C96-022-2-2002
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure
标准状态：A
标准类型：国际标准
发布日期：2002-12-05
国际标准分类号：31.080.01
部分代替标准：NF EN 60749-1999%NF C96-022-1999%NF EN 60749/A1-2002%NF C96-022/A1-2002%NF EN 60749/A2-2002%NF C96-022/A2-2002
NF C96-022-2-2002 A
百检网 2021-07-20
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