IEC 62047-27-2017 半导体器件 微机电装置 第27部分:用MTC试验的玻璃材料粘合结构粘合强度试验 A

百检网 2021-07-20
标准号:IEC 62047-27-2017
中文标准名称:半导体器件 微机电装置 第27部分:用MTC试验的玻璃材料粘合结构粘合强度试验
英文标准名称:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT) (Edition 1.0)
标准状态:A
标准类型:国际标准
国际标准分类号:31.080.99

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