KS C IEC 60749-2004 半导体器件.机械和气候试验方法

百检网 2021-07-20

标准号：KS C IEC 60749-2004
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法
英文标准名称：Semiconductor devices－Mechanical and climate test methods
标准类型：K46
发布日期：2004/8/13 12:00:00
实施日期：2004/8/13 12:00:00
中国标准分类号：K46
国际标准分类号：31.080.00
适用范围：이 규격은 각각의 반도체 개별 소자 및 집적 회로에 사용 가능한 방법을 나열한 것이다. 그

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