标准号：CNS5546-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-场效电晶体高温逆向偏压试验
英文标准名称：EnvironmentalTestingMethodsandEnduranceTestingMethodsforDiscreteSemiconductorDevices(ReverseBiasTestofFieldEffectTransistorUnderHighTemperature)
中国标准分类号：L44
国际标准分类号：19.040
19.080
31.080.01
CNS5546-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-场效电晶体高温逆向偏压试验
百检网 2021-07-21
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