标准号：IEC62951-3-2018
中文标准名称：半导体器件柔性半导体器件第1部分：膨胀状态下柔性基板上薄膜晶体管特性评估柔性衬底上导电薄膜的弯曲试验方法
英文标准名称：Semiconductordevices-Flexibleandstretchablesemiconductordevices-Part3:Evaluationofthinfilmtransistorcharacteristicsonflexiblesubstratesunderbulging(Edition1.0)
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.99
IEC62951-3-2018 半导体器件柔性半导体器件第1部分：膨胀状态下柔性基板上薄膜晶体管特性评估柔性衬底上导电薄膜的弯曲试验方法
百检网 2021-07-23
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