20021939-T-610 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法已发布

百检网 2021-07-29

标准号：20021939-T-610
中文标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文标准名称：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准状态：已发布
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：H17
国际标准分类号：77.040.01
归口单位：中国有色金属工业协会
主管部门：中国有色金属工业协会
起草单位：北京有色金属研究总院
起草人：王彤涵
相近标准：GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法;GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍
标准制修订：修订

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