GB/T 19403.1-2003 半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路) 现行

百检网 2021-07-29

标准号：GB/T 19403.1-2003
中文标准名称：半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路)
英文标准名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2003/11/24 12:00:00
实施日期：2004/8/1 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：信息产业部第四研究所
相近标准：20030158-T-339 半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路);GB/T 1275

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