GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

标准号：GB/T 5594.8-2015
中文标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
英文标准名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure
标准类型：L90
发布日期：2015/5/15 12:00:00
实施日期：2016/1/1 12:00:00
中国标准分类号：L90
国际标准分类号：31-030
引用标准：GB/T 9530-1988
适用范围：GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。