标准号：DIN IEC/TS 61967-3-2015
中文标准名称：集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法(IEC/TS 61967-3-2014)
英文标准名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method (IEC/TS 61967-3:2014)
标准类型：L56
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
引用标准：DIN EN 61967-1-2003;IEC 60050-55-1970;IEC 60050-101-1998;IEC 60050-102-2007;IEC 60050-103-2009;IEC 60050-111-1996;IEC 60050-111 AMD 1-2005;IEC 60050-112-2010;IEC 60050-113-2011;IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011;IEC 60050-113 AMD 1-2014;IEC 60050-114-2014;I
DIN IEC/TS 61967-3-2015 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法(IEC/TS 61967-3-2014)
百检网 2021-07-30
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