GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法

百检网 2021-07-31

标准号：GB/T 5594.2-1985
中文标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法
英文标准名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio
标准类型：L32
发布日期：1985/11/27 12:00:00
实施日期：1986/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L32
国际标准分类号：31.030
适用范围：本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。

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