DIN IEC/TS 62132-9-2012 集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法(IEC 47A/887/CD-2012)

百检网 2021-07-31

标准号：DIN IEC/TS 62132-9-2012
中文标准名称：集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法(IEC 47A/887/CD-2012)
英文标准名称：Integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method (IEC 47A/887/CD:2012)
标准类型：L55
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200

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