BS EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.粒子冲击噪音探测(PIND)

百检网 2021-08-02

标准号：BS EN 60749-16-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.粒子冲击噪音探测(PIND)
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Particle impact noise detection (PIND)
标准类型：L40
发布日期：2003/6/19 12:00:00
实施日期：2003/6/19 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：17.140.20;31.080.01
适用范围：The purpose of this part of IEC 60749 is to detect the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills). The test of particle impact noise detection is classified as non-destructive.

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