DIN EN 60749-1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则

百检网 2021-08-02

标准号：DIN EN 60749-1-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2003/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：This part of DIN EN 60749 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all other parts of the series.

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