DIN 41850-3-1985 薄膜集成电路.第3部分:材料、介电糊剂的评价方法

百检网 2021-08-02
标准号:DIN 41850-3-1985
中文标准名称:薄膜集成电路.第3部分:材料、介电糊剂的评价方法
英文标准名称:Integrated film circuits; methods for the assessment of dielectric pastes
标准类型:L55
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:L55
国际标准分类号:31.200
适用范围:The standard describes procedures for the assessment of dielectric pastes to be used in integrated film circuits. Thereby the suitability is to diffentiate for the three main applications cross-over, dielectric and protective coating. The tests, necessary for this assessment, are carried out by means of a test substrat the layout of which is laid down in this standard.#,,#

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