标准号：QJ 10004-2008
中文标准名称：宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
英文标准名称：Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
标准类型：L40
发布日期：2008/2/16 12:00:00
实施日期：2008/6/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
引用标准：GB 4792-1984;GJB 1649-1993;GJB 2712-1996;GJB 3756-1999
适用范围：本标准规定了采用钴60γ射线对宇航用半导体器件（以下简称器件）进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。本标准适用于宇航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。
QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
百检网 2021-08-03
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