YY/T 0979-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法现行

百检网 2021-08-06

标准号：YY/T 0979-2016
中文标准名称：半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
标准状态：现行
标准类型：地方标准
发布日期：2016/4/1 12:00:00
实施日期：2016/10/1 12:00:00
中国标准分类号：L 40
国际标准分类号：31.080.01
主管部门：贵州省质量技术监督局
相近标准：GB/T 8446.2-1987 电力半导体器件用散热器热阻和流阻测试方法;SJ/T 10482-1994 半导体深能级的瞬
行业分类：制造业

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