20065764-T-339 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 已发布

标准号：20065764-T-339
中文标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
英文标准名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
标准状态：已发布
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：中国电子技术标准化研究院
国际标准分类号：31-030
归口单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所
起草人：江树儒
相近标准：GB/T 5594.8-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定;GB/T 5594.8-2015  电
标准制修订：修订