20184233-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的） 正在批准

标准号：20184233-T-339
中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）
英文标准名称：Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic Test Methods–Part 31: Flammability of platic-encapsulated devices（internally induced）
标准状态：正在批准
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：河北中电科航检测技术服务有限公司
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：裴选
相近标准：  半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）;  半导体器件 机械和气候试验方法 第32部
标准制修订：制订