20063373-T-469 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 已发布

标准号：20063373-T-469
中文标准名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
英文标准名称：Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
标准状态：已发布
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：H80
国际标准分类号：29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：峨嵋半导体材料厂
起草人：江莉
相近标准：GB/T 1553-1997  硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法;GB/T 1553-2009  硅和锗体内少数载流子寿
标准制修订：修订