GB/T 35310-2017 200mm硅外延片现行

百检网 2021-08-06

标准号：GB/T 35310-2017
中文标准名称：200mm硅外延片
英文标准名称：200mm silicon epitaxial wafer
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2017/12/29 12:00:00
实施日期：2018/7/1 12:00:00
中国标准分类号：有色金属技术经济研究院
国际标准分类号：29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：南京国盛电子有限公司
相近标准：20141871-T-469 200mm硅外延片;JB/T 6596-1993 滚齿机精度(*大工件直径小于200mm);

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

相关商品

上一篇《BB/T 0051-2017 输液软袋用热转印膜现行》

下一篇《DB53/T 882-2018 核桃主要有害生物调查技术规程现行》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

行业热点