标准号：GJB 128-1986
中文标准名称：半导体分立器件试验方法GJB 128-1986
发布日期：2020/4/30 12:00:00
有效日期：2026/1/13 12:00:00
适用范围：只测： 1.频率：（2～2700）Hz； 2 *大推力：≤30kN； 3.*大载荷：≤500kg； 4.*大加速度：≤1000m/s²； 5.*大位移(P-P)：≤51mm； 6.台面尺寸：（800×800）mm；7.仅限特定客户的特定产品
GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法GJB 128-1986
百检网 2021-08-09
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