高加速试验

　　高加速试验一般分为宝加速寿命试验和高加速应力应力筛选试验，高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验)是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏*限，从而优化产品的可靠性。HALT不是一种合格或者不合格的测试，是一种协助设计工程师改善产品可靠性的工具，没有预先设定*限，*限由产品决定，逐步增加应力，直至失效，试验中需要对产品进行监测。HASS(Highly Accelerated Stress Screening)试验产品通过HALT试验得出操作或破坏*限值后所做的高加速应力筛选,应力低于HALT试验。

　　百检网拥有多台HALT试验箱，可开展的Halt/Hass试验，包括：低温步进应力试验、高温步进应力试验、振动步进应力试验、快速热循环试验和综合应力试验，在这些试验过程中，往往伴随着工作应力如产品开/关机，电压位偏，频率拉偏等。

适用范围：

　　可为电工电子、仪器仪表、汽车以及航天产品的模块、通讯终端、部件以及整机等开展Halt/Hass试验。

测试标准：

　　GB/T 29309;

　　DKBA1141《通信产品HALT试验规范》。