TOF-SIMS

百检网 2021-09-15

  TOF-SIMS分析去哪里做?飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)。此类质谱仪可同时检测所有给定*性的二次离子,并具有**质量分辨率。

检测范围

  1,可对H-U元素进行定性分析(定量需标样),检测*限可达ppm或更低的浓度。

  2,良好的深度分辨率(0.1-1nm),但溅射速率很慢(<1μm/H)。

  3,*小小面积分析,*小区域可达直径80nm。

  4,可分析有机物,能直接输出有机物分子式;

  5,可对元素进行面分布分析。

检测标准

  1ASTM E1162-2011报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程

  2ASTM E1438-2011用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南

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  5,售后服务,相关工程师一对一服务。

  6,可出具中英文检测报告,及msds报告编写服务。

TOF-SIMS流程

  1、前期咨询

  2、邮寄TOF-SIMS样品或上门取样。

  3、工程师报价

  4、支付检测费用,开展实验。

  5、完成实验,出具检测报告。

  6、邮寄检测报告,售后服务。

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7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

客户案例展示

  • 上海朗波王服饰有限公司
  • 浙江圣达生物药业股份有限公司
  • 天津市长庆电子科技有限公司
  • 上海纽特丝纺织品有限公司
  • 无锡露米娅纺织有限公司
  • 东方电气风电(凉山)有限公司