JEMARM 20OF球差电镜是一款原子级分析型透射电镜,拥有****的STEM-HAADF像分辨率(78pm),无论是20OkV的高加速电压还是在30kv的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。ARM20OF在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到了0.3eV,*大增强了原子级观察和原子级分析能力。
应用范围
形貌分析:通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进—步的表征。
结构分析:观察研究材料结构并进行原子尺度的微分析,如:原子像,选区电子衍射,会聚束电子衍射等。
成分分析:可在原子尺度对样品进行成分分析,可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析,获得样品中的元素在一个点、—条线、—个面上的分布情况。
送样要求
粉末样品:样品量≥2mg(不接收强磁性样品)。
液体样品:样品量≥0.5ml(不接收强磁性样品)。
块体样品:样品尺寸≥3mm,若小于该尺寸请联系在线客服具体确认。
测试说明
1.粉末和液体样品要保证样品中没有过多的有机物和表面活性剂。
2.样品上球差电镜前*好用普通场发射电镜筛选下。
3.原子相测试主要包括HAADF暗场像拍摄,特别是原子相拍摄。另外可以附加一张非原子级的EDSmapping,如果需要该项,需要提前备注,并不默认提供。
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