TENSOR II 傅立叶变换红外光谱仪样品分析测试

傅立叶变换红外光谱仪TENSOR II样品分析测试可用于对样品进行快速识别、定量分析及鉴定，它具有优良的性能和杰出的扩展性，操作界面简单、直观。

简单易用

用户自定义界面、简单的测量模块及直观的软件向导功能都是布鲁克OPUSTM软件的标准配置，所有的操作和分析评价功能均可用于处理批量文件。这些特点使得软件使用和仪器操作都变得非常容易，所以即便是非专业的操作人员也可顺利地使用TENSOR红外光谱仪。

高度灵活性

TENSOR系列不仅可以用于日常的质量检测分析，也可扩展为研究型的红外光谱仪。种类齐全的红外采样附件确保您轻松的选择合适的采样模式。TENSOR红外光谱仪的外接扩展光路，可用于各种的应用，如红外显微镜分析、热分析红外联用系统、高通量筛选装置和光谱成像装置等。丰富的样品仓内置附件和外置附件可满足您的各种应用。

强大的扩展功能

TENSOR 可以通过光学组件的简单切换，将标准的中红外谱区扩展到远红外或者近红外谱区。傅立叶变换近红外光谱仪具有独特的优势：通常情况下，样品无需稀释即可进行测量，由于玻璃在近红外波段是透明的，样品可以直接放置在玻璃瓶中进行分析。石英光纤可以使近红外光远距离传输，进行样品的远程测量和过程的在线控制。

Bruker人工智能网络

TENSOR系列可以自动识别各种光学器件（如光源、分束器、检测器或激光器）和采样附件。与此同时，程序也会自动调入相关的实验参数为您的样品测试做好准备。TENSOR红外光谱仪使用PerformanceGuardTM在线监测功能，确保不间断的监测所有的光学器件和采样附件是否正常运行。

高性能设计

TENSOR系列专为当前典型的实验室需求而设计，它集操作简单、高性能设计和高性价比等优点于一身。TENSOR系列提供准直的光路、高灵敏度和高的光通量，这些特点均归功于立体角镜干涉仪RockSolidTM。与传统的平面镜干涉仪相比，立体角镜干涉仪可以从光学原理上消除准直误差，确保光路准直。

性能认证

TENSOR系列的独特设计保证每一次测试结果的可靠性。内置的认证单元（IVU）确保了系统的准确性和高精度，满足各种的标准认证。TENSOR集成了完整的21 CFR part 11、GLP认证，全面支持IQ/OQ/PQ等系统认证。

优异的设计

TENSOR II的设计既适合普通样品的常规测试，也适合与各种附件联用。仪器整机坚固耐用，密封性良好。

傅立叶变换红外光谱仪TENSOR II样品分析测试外接附件和样品仓可选附件

TENSOR II可以外接一个光路扩展附件，多可有4个光路输出口，联接多种外置附件。

·  HYPERION系列红外显微镜

·  HYPERION 3000红外成像系统

·  HTS-XT高通量筛选附件

·  焦平面阵列快速成像附件

·  TGA模块

·  用于VCD和PM-IRRAS偏振调制的PMA 50附件

·  气相红外联用附件

·  外接样品仓，可以抽真空或氮气吹扫

·  联接UHV的真空密封外接腔

·  积分球附件

·  液体自动进样器

布鲁克公司拥有DigiTect技术的检测器，基于新的双通道模数转换器，真正的24位动态范围，使电子噪声值达到低。TENSOR II标配的DTGS检测器，提供独特的Power-Mode模式，可以在低光通量的情况下显著提高信噪比。

扩展性

TENSOR II可以配置不同的分束器使光谱范围达到近红外或远红外。根据不同的光谱范围，用户自己可以非常容易的更换光源和检测器，更换之后主机可以自动识别这些光学元件。

应用

TENSOR II可广泛用于常规QC/QA分析，此外，无论您需要哪种配置，TENSOR II都能提供优秀的测量性能和高灵敏度。种类齐全的内置式和外置式测量附件使之可以满足工业研发与学术研究的各种**应用。

制药及生命科学

· 蛋白质构象及浓度定量（配套CONFOCHECK附件）

· 对水溶液中药物成分和赋形剂的高灵敏度的定量分析

· 微生物鉴定

· 生物组织的化学成像（配套HYPERION红外显微镜）

· 同分异构体手性材料分析（配套VCD附件）

· 气/水界面的脂/蛋白单分子膜的研究

· 与热分析联用对医药产品的挥发性、稳定性进行表征

聚合物和化学制品

· 对不均匀的聚合物和多层材料进行化学成像（配套HYPERION红外显微镜）

· 与热分析联用对挥发过程和分解过程进行检测和表征

· 实验室条件下的反应过程的监控（配套中红外光纤）

表面分析

· 超薄膜和单分子层薄膜的检测和表征

· 腐蚀过程的表征

· 将化学成像用于涂层均匀性分析（配套HYPERION红外显微镜）

建筑材料

· 与热分析联用进行耐热材料的特性评价

材料科学

· 建筑材料发射率的检测

· 红外窗片、镜面等光学材料的特性评价

· 采用光声光谱对黑色材料进行研究

半导体硅业

· 质量控制中碳/氧杂质的测定

土壤分析

· 土壤中养分和有机质的评估

· 土壤特性研究