1. 设备型号
Gatan 685
金鉴实验室氩离子抛光CP研磨制样视频
技术指标与配置:
(1)功能:具备平面大面积离子抛光、横截面离子抛光及高精度离子束镀膜,全面解决高端场 发射电镜所有制样需求;
(2)离子枪角度:0°到 + 18°,每只离子枪可独立调节;
(3)离子枪束能量:0.1keV~8keV , 可在不同电压下自动优化离子束束流;
(4)抛光区域面积:平面抛光区域直径≥10mm,横截面≥2mm×2mm;
(5)*大样品尺寸:直径32mm×高15mm;
(6)冷台部分:带有液氮冷台,以及精确控温系统,一次加注液氮续航能力6-8小时;
(7)耙材装置:同时安装两种靶材,金靶、铂靶。
优势:
具备样品切割和抛光两项功能;
配温控液氮冷却台,去除热效应对样品的损伤,有助于避免抛光过程中产生的热量而导致的样品融化或者结构变化;
配碳/铬镀膜,对于同一个样品,可在同一真空环境下完成抛光及镀膜,防止样品氧化,可以用于SEM/FIB导电镀膜样品制作。
2. 原理
氩离子切割技术是一种利用宽离子束(~1mm)来切割样品,以获得宽阔而精确的电子显微分析区域的样品表面制备技术。一个坚固的挡板遮挡住样品的非目标区域,有效的遮蔽了下半部分的离子束,创造出一个侧切割平面,去除样品表面的一层薄膜。
氩离子抛光技术又称CP截面抛光技术,是对样品表面进行抛光,去除损伤层,从而得到高质量样品,用于在SEM,光镜或者扫描探针显微镜上进行成像、EDS、EBSD、CL、EBIC 或其它分析。
3. 性能
样品粘贴在样品载台上的一个独特的llion+样品挡板上,便于使样品准确的定位。系统筒化操作,使样品可以重复插入样品台。
4. 氩离子抛光与切割/CP截面抛光的优点
机械抛光的缺点
相比较下氩离子抛光/CP截面抛光的优点:
(1)对由硬材料和软材料组成的复合材料样品, 能够很精细地制作软硬接合部的截面, 而使用传统方法制样是很困难的。
(2)比FIB方法的抛光面积更大(~1mm以上)。
5. 寄样要求
1. 送样前需要对样品进行预处理:样品预磨抛,样品要磨平,样品的上下表面要平行,样品抛光面至少用4000目砂纸磨平,在显微镜下看起来光滑,不粗糙。
2. 金鉴样品的尺寸要求:
2.1块状样品:以待抛光区域为中心点,样品直径不超过30mm、厚度0~20mm。(超出部分需要磨走)
2.2粉末样品:10g以上。
注:具体的样品要求可咨询在线业务!
6. 金鉴抛光样品台简介
6.1平面抛光样品台
平面抛光的样品尺寸要求:
块状样品:以待抛光区域为中心点,样品直径不超过30mm、厚度0~20mm。(超出部分需要磨走)
6.2 截面抛光样品台
截面抛光样品尺寸要求:
不超过挡板大小即可,但抛光区域大概只有档板中线区域的1mm
7.金鉴设备参数
8. 案例分析
(1)金属结合面
(2)锂电池石墨电*截面观察
(3)锂电池石墨颗粒平面抛
(4)线路板截面抛光
(5)芯片N*截面抛光
(6)支架镀层二焊点截面抛光
(7)支架镀层结构截面抛
(8)页岩抛光
(9)样品抛光后显示出高度孪晶的晶粒
(10) 抛光后的锆合金的菊池花样
(11)EBSD欧拉角分布图
(12)IPFZ 面分布
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