FIB制作TEM样品

百检网 2021-10-09

服务详情

服务背景

FIB制作TEM样品

检测内容

样品制备是TEM分析技术中非常重要的一环，但由于电子束的穿透力很弱，因此用于TEM的样品必须制备成厚度约为0.1μm的超薄切片。要将样品切割成如此薄的切片，许多情况下需要用到FIB(Focus Ion Beam，聚焦离子束) 进行TEM样品的制备。

检测标准

产品名称	检测项目	检测标准
FIB制作TEM样品	金鉴实验室双束FIB承接TEM制样	达到Electron transparent厚度

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