EN 61326-1：2013性能标准：
性能标准A和B中定义的**部分在EN 61326-1中保持不变.然而，2013年版本增加了一个与“可允许的性能损失”相关的部分。如果制造商没有确定*低性能水平或允许的性能损失，用户可以从设备或产品文档的合理期望中推断出这些损失。换句话说，一个产品的功能仍然可以通过2006年版本中指定的用户干预来恢复--这个版本只是有额外的语句来澄清。
EN 61326-1：2013排放量：
2006年版本引用CISPR 11：2003，2013年版本引用CISPR 11：2009+A1：2010。对CISPR 11：2009的**项修正规定了“小型设备”3米测试距离的替代辐射排放限制，其中“小型设备”被定义为适合于地面以上1.5米、直径1.2米的圆柱形测试体积的设备。
基本环境中的免疫
静电放电试验水平从61636~2006年的4kV接触放电和4kV空气放电提高到61326~2013年的4kV接触放电和8kV空气放电。这一变化是为了使标准更接近于非实验室环境。
对于磁敏设备，en 61326-1：2013增加了对工频磁抗扰度的新要求(iec 61000-4-8)，测试级别为3A/m。受影响的设备类型包括霍尔效应传感器和磁继电器。
工业环境豁免
现在，2013年版本中的每一个项目都有明确2006年标准的业绩标准。没有进行任何其他修改，使本节基本上保持不变。
受控电磁环境的免疫力
EN 61326：2006有一个名为“测量I/O”的端口类别，允许制造商定义测试级别(即没有强制测试级别)，并在产品文档中说明EUT测试的级别。在EN 61326：2013中，此端口类别已被删除。因此，以前属于“测量I/O”类别的端口现在属于其余的“I/O信号/控制”类别，即所需的测试级别由标准确定，而不是由制造商自行决定。
便携式测试设备的抗干扰性
对于磁敏设备，en 61326-1：2013增加了一项新的要求，要求电源频率抗磁能力(iec 61000-4-8)在3A/m的测试水平上。它还允许crt显示干扰大于1A/m。
这如何影响现有和新的测试程序
我们一直在测试这一*新标准，所有报告都将发布给EN 61326-1：2013版本的标准。
希望将产品更新到2013年版本的客户可以根据需要进行适用的测试。一旦满足了额外的测试要求，报告就可以重新发布，以反映2013年版本。
尽管在EN 61326-2：2013中增加了新的磁抗扰性要求，但在大多数情况下，磁抗扰性测试仍然不需要，因为只需要对含有固有受磁场影响的元件的设备进行测试。
EN 61326-2006年对2013年
EN 61326-1：2013年包括了一些制造商不应忽视的关键变化。它还澄清了2006年版本中提到的许多标准。制造商目前应该对EN 61326-1：2013版本的标准进行测试。使用2006年的指南现在被认为是不符合规定的，产品必须遵守EN 61326-1才能运往欧洲。
为进一步澄清这些变化或要求按照EN 61326-1：2013标准进行测试，在线
