场发射透射电子显微镜

百检网 2021-11-11

Talos F200X具有高分辨率扫描/透射电子显微镜 (STEM) 和 TEM 成像功能；四个探头可以同时成像，快速采集不同角度的电子信号；EDS可以实现材料微区成分分析；具有三维重构技术，表征材料的三维空间结构。

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