高分辨透射电子显微镜(TEM)服务简介:JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。
利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。
高分辨透射电子显微镜(TEM)主要特点:
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。